双源双探工业CT检测系统

ZXVoxel D2000

大型工件检测

双源双探

450kV工业CT

微焦点工业CT

ZXVoxel D2000型 X射线工业CT检测系统是锐新射线专为大型及精密工件开发的高清标准化工业CT检测设备，采用立式双源双探结构，搭载高穿透能力的小焦点射线机与超高分辨率的开放式微焦点射线机，配合大视野平板探测器及长尺寸线阵探测器，实现从宏观到微观的全尺度覆盖。系统支持DR扫描、三代标准CT扫描、大视野偏置扫描、扇束线阵扫描等多种采集模式，配备完整的图像处理、重建、三维可视化及孔隙率分析软件生态。整机采用多轴高精度伺服运动系统与双重限位安全保护设计，具备多重辐射安全联锁，是航空航天、国 防科技、核工业、精密制造等领域大型工件高精度无损检测的理想平台。

咨询热线：

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产品核心特点及优势

双射线源配置，兼顾高穿透与高分辨

特点：系统采用锐新自主研制的450kV小焦点射线机与225kV开放式反射靶微焦点射线机双源配置。450kV版本穿透等效钢厚度达50mm，225kV微焦点JIMA分辨率可达2.0μm。用户可根据检测需求灵活切换射线源，实现一机多用。

优势：

● 450kV高能源：穿透高温合金、钛合金、钢件等大厚度高衰减材料，适用于大型铸件、舱段、壳体检测

● 225kV微焦点源：实现2.0μm级超高分辨率，清晰识别亚微米级裂纹、微气孔等极细微缺陷

● 双源配置无需购置两台设备，大幅降低用户采购与维护成本

● 覆盖从大型结构件到精密微小件的全尺度检测需求

多种扫描模式，灵活适配复杂检测需求

特点：系统支持DR扫描、锥束CT标准扫描（三代）、锥束大视野偏置扫描（转台偏置）三种工作模式。偏置扫描模式下，工件水平移动使至少一半区域在成像视野内，实现超探测器物理尺寸的大范围层析成像。

优势：

● DR模式适用于快速透视筛查，秒级出图，直观判断内部结构异常

● 标准CT模式提供任意断层图像，精准定位缺陷在工件内部的二维/三维位置

● 偏置CT模式突破探测器物理尺寸限制，可检测最大直径350mm的中大型工件

● 一机多用，满足研发阶段精确定量检测与产线批量快速筛查的双重需

七轴高精度运动系统，极致灵活性与精度

特点：机械系统采用7轴高精度伺服控制，包括射线源升降、探测器升降、平板探测器水平移动、转台纵向移动、转台横向移动及转台旋转。所有直线运动轴均设置电子限位与机械硬限位双重保护。射线源与探测器独立升降，行程均≥1200mm。

优势：

● 6轴独立控制，可灵活调整放大比、扫描视野及成像几何参数，适配异形复杂工件

● 射线源与探测器独立升降，无需移动工件即可实现不同高度区域的扫描

● 探测器水平移动功能支持偏置扫描模式，突破探测器物理尺寸限制

● 伺服驱动确保运动定位精度，CT尺寸测量精度≤0.05mm

● 双重限位设计有效防止操作失误或软件异常导致的超程碰撞

全流程智能软件生态，从采集到分析一站式完成

特点：系统配备采集及运动控制软件、图像重建软件、三维可视化软件、孔隙率/夹杂物分析软件、图像处理软件五大模块。具备探测器校正、环状伪影弱化、射线硬化校正等高级预处理功能，支持ADR缺陷自动识别。

优势：

● 7轴独立控制，可灵活调整放大比、扫描视野及成像几何参数，适配超大异形复杂工件

● 射线源与探测器独立升降，无需移动工件即可实现不同高度区域的连续扫描

● 平板探测器水平移动功能支持偏置扫描模式，突破探测器物理尺寸限制

● 伺服驱动配合光栅尺闭环反馈，微焦点模式下尺寸测量精度优于5.0μm

双探测器配置，面阵与线阵灵活切换

特点：系统同时配备430mm×430mm大视野非晶硅平板探测器与600mm有效长度高动态直线阵列探测器。

优势：

● 面阵探测器：大视野快速成像，适用于DR筛查及锥束CT三维重建，检测效率高

● 线阵探测器：614mm有效长度配合扇束扫描，可实现超大直径工件的连续层析成像

● 双探测器配置显著扩展系统检测能力边界，一机兼顾效率与精度

● 准直屏蔽装置有效抑制散射干扰，保障线阵探测器图像信噪比

检测功能展示

控制系统

DR图像处理

三维可视化软件

孔隙率/夹杂物分析软件

技术参数