光谱影像测量仪

一、产品介绍：

全自动光谱影响测量仪是用光谱色散原理测量产品高度和扫描产品轮廓，利用光学放大成像，根据工件位置及特征，配合自主研发的视觉技术进行物体的几何尺寸测量以及绘图，并可将数据表格化以及进行后期处理。适用于汽车、机械加工、电器、塑料加工、电子，手机平板、仪表、PCB板、菲林胶片等行业精密五金的检测和设计开发。

设备基本视觉功能：

基本几何元素测量、组合元素测量、几何元素构造、形位公差评定、逆向工程等，各种报表的输出。

可画点、画线、画圆、画圆弧等

自动捕捉边缘点、自动进行点测量

自动线测量、自动圆测量、自动圆弧测量、自动线识别

框选点群、框选直线、框选圆、框选圆弧、框选椭圆

点选点群、点选圆

简洁的尺寸报表输出

设备轮廓扫描功能：

a） 2d ccd视觉引导模块：可编程视觉引导光谱进行扫描等。

b） 尺寸测量模块：测量2d尺寸和高度段差尺寸等。 拟合特征元素，构造元素，尺寸输出，3d坐标系等。

c） 扫描模块：ccd扫描轮廓，点光谱扫描Z形貌。定制点光谱扫描(a到b扫描，行扫描，列扫描，网格扫描，之字形扫描）。

d）点云处理：剪切，平滑，过滤及去杂点，三角网格化，合并等。

e）对比模块：2d/3d轮廓度，截面轮廓，点云与ccd对齐，3d对比，偏差标签点等

          f）2D线轮廓、高度差测量、2D尺寸标注功能.

h）自动报告输出模块：尺寸表格报告，图形报告等。

基本参数：

公司可根据客户需求定制。。。。。。