产品简介

WM7300CE/WM7400CE通过近场电磁探头3D扫描试验台上的电路板等类似被测物所产生近场辐射的扫描系统。

产品特点

电磁干扰扫描系统采用专门开发的近场电磁探头测量正交

+旋转4轴全方向电磁干扰（X轴·Y轴、Z轴+θ轴：旋转轴）。扫描所得结果会以频谱表以及场强的彩色分布图显示在使用者的PC显示器上。叠加在装在主机上的CCD照相机所摄取的样品的实体影像上，使用者得以定位准确的辐射源。

WM7300CE/WM7400CE分别具有A3或A4尺寸测量平台,可达6GHz以上测试频率，全方向磁通量测定，定位干扰源位置，实现了高性能EMC电磁干扰扫描。即时没有规则形状的样品也可以测量，测量频率范围为150KHz至3GHz～8 GHz/150KHz。

专用软件将样品的照片和电磁干扰图的重叠，电磁干扰及产生源一目了然展现出来，并且可3D方式展现。

专用电磁探棒、经过多年的研发高度可靠，机器人、高清晰度摄像头、高精度激光测距仪的组合，可进行等距离高精度电磁干扰测量。

激光测距。电磁探棒等距离测量。

注：

为了准确测量电磁干扰，可选用电波暗室或者屏蔽箱。附图是本公司生产的WM 7400专用设计的屏蔽盒（另售）

blob.png

屏蔽室屏蔽性能：

800 MHz-6 GHz（60db以上）

尺寸：840（W）×1545（H）×940（D）mm（WM 7400专用屏蔽箱）