焦偏振精密测量｜元奥仪器亮相 第七届全国偏振与椭偏测量大会

    第七届全国偏振与椭偏测量大会将于2026年8月26-28日在天津召开，由天津大学主办，精密测试技术及仪器全国重点实验室承办，华中科技大学、中国仪器仪表学会集成电路测量与仪器分会、西安电子科技大学、北京大学协办。

    本次会议聚焦偏振与椭偏测量的前沿理论、先进器件/仪器、关键技术和多学科应用等领域，旨在搭建高水平学术交流与产学研合作平台，推动多学科交叉发展与成果转化。

    元奥仪器携科研级相机、精密光学光源及系统集成方案参与第七届全国偏振与椭偏测量大会，助力薄膜表征、穆勒矩阵成像、椭偏光路搭建，诚邀各位专家同仁莅临交流。

    偏振精密测量，是薄膜表征、材料科研、光电检测领域的核心基础技术。为深度对接行业前沿技术，交流最新光路配套解决方案。

展会核心信息

大会名称：第七届全国偏振与椭偏测量大会

展会时间：2026年8月26日—8月28日

会议地址：天津泛太平洋酒店

元奥展位：3

    针对椭偏测试、偏振调制光路、显微偏振成像、PEM调制系统、自研光学测试平台的核心痛点，本次会议我们重点带来多款成熟解决方案：

✅ 科研级成像探测系统

    代理PCO系列sCMOS、荧光寿命FLIM相机、EXOSENS短波红外相机，适配椭偏成像、微区偏振探测、荧光偏振各向异性测量；高灵敏度、低噪声，可完成微弱偏振信号采集，满足二维材料、钙钛矿薄膜、光学涂层等样品成像检测。

✅ 科研级模块化偏振光源解决方案

    多波长可定制，覆盖紫外可见近红外波段；提供准直输出、光纤耦合两种输出形态，便于光路集成；低噪声、长寿命、无需预热，可替代传统氘卤光源。

✅ 光学系统集成配套服务

    提供Prior电动位移载物台、图像分析系统等配套硬件；面向高校、科研院所提供光路方案设计、二次开发适配、整机配套批量服务，解决进口设备交期长、定制困难等痛点。

方案适配应用场景

▪ 光学涂层、功能薄膜、多层膜椭偏表征

▪ 二维材料、钙钛矿、半导体薄膜科研测试

▪ 显微偏振成像、微区高精度检测

▪ PEM调制偏振测量系统配套光源与探测

▪ 高校自研椭偏光路、科研实验平台搭建

    广州市元奥仪器有限公司，专注高端光电仪器供应与系统集成服务，为偏振测量、精密光学检测、科研仪器集成提供稳定可靠、高度可定制的全套解决方案。

    会议期间，我们期待与各位专家学者、行业同仁共同交流偏振光学前沿应用、光路搭建经验以及国产化替代新思路。

    欢迎各位老师、行业伙伴莅临交流，洽谈合作，共探偏振精密测量技术创新发展！