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一、校准流程优化
多级砝码分段校准
使用经认证的E1/E2级标准砝码，按天平量程分阶段加载（如0.01mg级校验低量程段，1mg级校验高量程段），校准偏差需控制在分度值的±2倍内。
双模式校准机制
内校：预热≥2小时并确保水平状态后启动内置程序，校准后观察显示屏是否稳定归零。
外校：按从轻到重的顺序逐级加载外部砝码，超差时需排查设备故障或重新校准。
二、环境控制与设备防护
温湿度与气流管理
工作环境需恒温（20-25℃±0.5℃）、恒湿（相对湿度≤60%），并置于防震台加装双层防风罩，远离空调出风口或门窗。
抗干扰措施
使用金属容器或对塑料/玻璃器皿进行除静电处理，减少静电吸附误差。
铁质容器定期退磁，并远离电机、磁力搅拌器等磁场源。
三、操作规范与维护
操作要点
样品温度需与环境平衡，挥发性物质使用密封容器并在10秒内完成读数。
轻放样品避免触碰防风罩内壁，禁止超载称量（如超过5g）。
维护策略
每日清洁秤盘及传感器区域，每周更换硅胶干燥剂（变色超50%即失效）。
长期停用后需执行3次连续校准并记录数据，追踪性能衰减。
四、故障排查与性能验证
稳定性异常处理
数字持续跳动时，检查防风罩闭合状态及温湿度波动，必要时转移至隔离环境。
重复性误差＞0.005mg时，可能为传感器老化，需联系厂家检。
数据可信度验证
若系统性误差（如线性偏差＞0.003%）出现，需重新执行全量程校准并核查砝码溯源性证书。
通过上述措施，可有效保障百万分之一天平在研发、纳米材料分析等场景中的可靠性。
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