详情描述

产品概述


科研级三目正置金相显微镜LH-71S配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。总放大倍数: 50X- -800X。


产品应用


1、分析金属、矿相内部结构组织。

2、电子厂PCB板、芯片检验。

3、观察材料表面的某些特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性。

主题 *
内容 *
公司名
联系人 *
联系电话 *
电子邮箱
验证码  
 点击确定代表您同意《服务条款》《隐私政策》