XG656 漆膜倾向指数测定仪

主要特点

● 采用数字化光泽控制技术，搭载智能操作系统，配合液晶显示。

● 超大容量的内存空间，实现完全记录，现场对比分析更加简单。

● 大容量高品质锂电池，轻松解决续航问题。

● 方便携带，便于在工厂和偏远地带进行测量。

技术指标

名称 参数 测量几何图形： 45/0图像捕捉 显 示： 4.5cm Color TFT 光 源： 立三方向25 LED (8可见波长; 1 UV) 色差公式： △E*ab 重 复 行： △E<0.07 测量间隔： 0.5秒 外形尺寸： 199mm×68mm×90mm 外包装尺寸： 400mm×240mm×340mm 仪器重量： 约800g