详情描述
MPS150SV是6英寸探针台,适合需要在短的时间内精确对半导体元器件及材料、晶圆片进行IV/CV测试的用户使用。结合半导体器件分析仪可作为实验室的半导体器件分析测试平台。
MPS150SV 探针台为保护样片测量周期内高质量的接触,通过非常稳定的系统平台设计,完美的振动隔离方案,能够让用户取得想要的测量精度。工业标准探针座经过优化光学和无反向间隙X-Y-Z移动,接触分离驱动达到1μm重复性,相对于半自动探针台探针座摆放更加精密。高质量的三同轴信号线缆保证测试特性电流达到fA级别。低噪声的载片台可提供加热选件,让器件测试更加容易。
载片台采用X-Y-Z旋钮设计, 可单手调节操作, 高度平整的表面及可
移动性,让初学者和用户容易操作上手
该探针台设计具有可升级和扩展性,例如可升级阻抗测量(配合阻
抗分析仪),电容测试可达fF级别。保护用户的一次性投资。
产品特点:
让用户成为低噪声测量专家:半导体材料晶圆片I-V/C-V 测试通用平台
i-V 测试达到 fA级别:全部采用triaxial线缆,高质量探针座
始终确保接触稳定性: 紧凑坚固的机械结构设计 ;保护每一位用户的未来投资;可根据将来的需求进行配置升级
培训操作无需费时:简单易用的设计



















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