详情描述

XAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、配位数、位形与键长。

产品介绍 Product Introduction

TableXAFS-500谱仪系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构的光谱测量，在实验室即可助您畅享“想测就测、随时可测”的XAFS自由。

产品特点 Features 

主要参数 Parameters

应用领域 Application

测试数据 Test Data


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