高加速寿命试验HALT

高加速寿命试验HALT
简要介绍:高加速寿命试验英文简称为HALT，与传统的可靠性试验相比，HALT试验的目的是激发故障，即把产品潜在的缺陷激发成可观测的故障。因此，它不是采用一般模拟实际使用环境进行的试验，而是人为施加步进应力，在远大于技术条件规定的极限应力下快速进行试验，找出产品的各种工作极限与破坏极限。HALT试验有如下优点:利用高环境应力，提早使产品设计缺陷被激发出来，从而消除缺陷，大大提高设计可靠性。产品的设计周期大大减少。生产费用大大降低。因为交付的产品具备更高的可靠性，所以维修费用大大降低:
应用领域:汽车产品、电子电气零部件、通讯产品、航空器材、PCB、PCBA、仪器仪表、家用电器、医.疗器械等。
主要仪器:高加速寿命(HALT)试验箱:
参考标准:GBIT29309等